Inhoudsopgave
21 relaties: Amplitudemodulatie, Atoom, Elektrische geleiding, Elektrische lading, Engels, Fotodiode, Frequentiemodulatie, Interferometer, Laser (licht), Lijst van analysemethoden voor materialen, Magnetic force microscopy, Microscopie, Platenspeler, Scanning probe microscopy, Scanning tunneling microscopy, Silicium, Sonde (meetinstrument), Tunneleffect, Vacuüm, Veer (mechanica), Wet van Hooke.
Amplitudemodulatie
Amplitudegemoduleerd signaal in het rood Amplitudemodulatie, kortweg AM genoemd, is een vorm van modulatie waarbij de amplitude van een signaal wordt gevarieerd om het geluidssignaal of andere informatie door te geven.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Amplitudemodulatie
Atoom
Een atoom (Oudgrieks: ἄτομος, atomos‚ ondeelbaar) is het uiterst kleine kenmerkende onderdeel van een chemisch element, bestaande uit een kern en een of meer elektronen.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Atoom
Elektrische geleiding
Elektrische geleiding is het transport van elektrische lading door geladen deeltjes.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Elektrische geleiding
Elektrische lading
Elektrische lading, vaak kortweg lading genoemd, is een natuurkundige grootheid (symbool Q) die aangeeft op welke manier een deeltje wordt beïnvloed door elektrische en magnetische velden.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Elektrische lading
Engels
Het Engels (English) is een Indo-Europese taal, die vanwege de nauwe verwantschap met talen als het Fries, (Neder-)Duits en Nederlands tot de West-Germaanse talen wordt gerekend.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Engels
Fotodiode
Fig. 1 Fotodiode Osram BPW21, rechtsonder is de bonddraad zichtbaar, die de kathode met de geïsoleerde aansluitdraad verbindt. De anode maakt elektrisch contact met de behuizing, en aan de behuizing zit de aansluitdraad voor de anode vast Een fotodiode is een elektronisch onderdeel dat stroom produceert als er licht op valt.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Fotodiode
Frequentiemodulatie
Frequentiegemoduleerd signaal in het blauw Frequentiemodulatie (frequency modulation, FM) is een van de vormen van modulatie die men kan toepassen om informatie over te brengen via bijvoorbeeld een radioverbinding door op de frequentie van een draaggolf relatief kleine modulaties aan te brengen die evenredig zijn met het bronsignaal, dat bijvoorbeeld een spraaksignaal kan zijn (audio).
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Frequentiemodulatie
Interferometer
Michelson-interferometer Een interferometer is een meetinstrument dat gebruikmaakt van interferentie van licht of andere golven.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Interferometer
Laser (licht)
Verschillende laserstralen spiegels op een optische bank. De bron (waarschijnlijk een argonlaser) staat rechts achter. Drie laserstralen richten op hetzelfde punt, Starfire Optical Range, Kirtland Air Force Base, New Mexico Een laser is een lichtbron die in staat is een smalle coherente bundel licht voort te brengen.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Laser (licht)
Lijst van analysemethoden voor materialen
Dit is een lijst van karakteriserings- en analysemethoden voor materialen en hun structuren.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Lijst van analysemethoden voor materialen
Magnetic force microscopy
Magnetic force microscopy (MFM) is een techniek om magneetvelden op submicron-schaal zichtbaar te maken.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Magnetic force microscopy
Microscopie
gepolariseerde lichtmicroscoop. Microscopie, oppervlakteanalyse of oppervlaktekarakterisering is een categorie binnen de materiaalkarakterisering, die de oppervlakte- of grenslaagstructuur van een materiaal onderzoeken en in kaart brengen.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Microscopie
Platenspeler
Platenspeler Element Regelbaar contragewicht Een platenspeler – ook wel draaitafel, grammofoon of pick-up genoemd – is een apparaat om grammofoonplaten af te spelen.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Platenspeler
Scanning probe microscopy
Scanning probe microscopy (SPM) is een microscopietechniek, waar met een sonde (Engels: probe) het oppervlak van een substraat op atoomschaal wordt verkend en in gescand.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Scanning probe microscopy
Scanning tunneling microscopy
Een scanning tunneling microscoop met een stapel geveerde platen om bewegingen te dempen, 2004. Principe van STM, Scanning tunneling microscopie. Probe.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Scanning tunneling microscopy
Silicium
Monokristallijn silicium voor waferfabricatie Silicium of kiezel is een scheikundig element met symbool Si en atoomnummer 14.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Silicium
Sonde (meetinstrument)
Het scannen van een oppervlak met een sonde.geïntegreerd circuit te testen. Een sonde (Engels: (test)probe) is een fysiek onderdeel van een meetinstrument.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Sonde (meetinstrument)
Tunneleffect
Illustratie van de golffunctie voor een deeltje dat van links een potentiaalbarrière nadert. Omdat de golffunctie binnen de barrière niet nul wordt zolang de potentiaal niet naar oneindig nadert, is er een kleine kans dat een inkomend deeltje niet reflecteert, maar door de barrière heen gaat.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Tunneleffect
Vacuüm
Een vacuüm is een ruimte zonder materie en (dus) zonder druk.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Vacuüm
Veer (mechanica)
Een trekveer Een drukveer Een bladveer Drukveer die is omgevormd tot trekveer. Deze veer is bestemd voor schrikdraad. Een verengalm uit een gitaarversterker Een bladveer Spiraalveer als aandrijving fiets Polygoonjournaal 1954 Een veer is een elastisch constructie-element dat bedoeld is om een tegenkracht te leveren die toeneemt met de verplaatsing.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Veer (mechanica)
Wet van Hooke
De wet van Hooke (lineaire lijn) voor compressie en rek van veren. De wet van Hooke (Latijn: ut tensio, sic vis, "zoals de rek, zo is de kracht") is een bekende wet uit de natuurkunde en materiaalkunde die de evenredigheid tussen de mechanische spanning en de hieruit voortkomende vervorming (bijvoorbeeld een uitrekking) beschrijft.
Bekijken Atoomkrachtmicroscopie en Wet van Hooke
Ook bekend als Atomic Force Microscopy, Atomic force microscopie, Atoomkrachtmicroscoop, Atoomkrachtmicroscoop (AFM, atomic force microscope, Atoomkrachtmicroscoop (AFM, atomic force microscope).