We werken aan het herstellen van de Unionpedia-app in de Google Play Store
UitgaandeInkomende
🌟We hebben ons ontwerp vereenvoudigd voor betere navigatie!
Instagram Facebook X LinkedIn

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Index IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability is een internationaal, aan collegiale toetsing onderworpen wetenschappelijk tijdschrift op het gebied van de natuurkunde.

Inhoudsopgave

  1. 4 relaties: Institute of Electrical and Electronics Engineers, Natuurkunde, Peerreview, Wetenschappelijk tijdschrift.

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Het Institute of Electrical and Electronics Engineers of IEEE (uitgesproken als) is, met meer dan 400.000 leden, waarvan meer dan 100.000 studentleden, in 160 landen, 's werelds grootste vereniging van professionals zoals ingenieurs, wetenschappers, wiskundigen, informatici, fysici, etc.

Bekijken IEEE Transactions on Device and Materials Reliability en Institute of Electrical and Electronics Engineers

Natuurkunde

natuurkundige verschijnselen Natuurkunde of fysica is de wetenschap die de algemene eigenschappen van materie, straling en energie bestudeert, evenals het gedrag ervan in de ruimte en de tijd.

Bekijken IEEE Transactions on Device and Materials Reliability en Natuurkunde

Peerreview

Peerreview (Engels: peer review, ook wel aangeduid als: collegiale toetsing of onderlinge toetsing) is een methode om de kwaliteit en objectiviteit van onderzoek en (geschreven) werk te verbeteren, verifiëren of controleren door het werk te onderwerpen aan de kritische blik van een aantal gelijken (Engels: peers), meestal vakgenoten of collega's van de onderzoeker(s) of auteur(s).

Bekijken IEEE Transactions on Device and Materials Reliability en Peerreview

Wetenschappelijk tijdschrift

Een wetenschappelijk tijdschrift is een tijdschrift waarin wetenschappelijke bevindingen gepubliceerd worden: het is een tijdschrift dat toegewijd is aan wetenschap.

Bekijken IEEE Transactions on Device and Materials Reliability en Wetenschappelijk tijdschrift