Logo
Unionpedia
Communicatie
Ontdek het op Google Play
Nieuw! Download Unionpedia op je Android™ toestel!
Gratis
Snellere toegang dan browser!
 

Atoomkrachtmicroscopie en Rasterelektronenmicroscoop

Snelkoppelingen: Verschillen, Overeenkomsten, Jaccard Similarity Coëfficiënt, Referenties.

Verschil tussen Atoomkrachtmicroscopie en Rasterelektronenmicroscoop

Atoomkrachtmicroscopie vs. Rasterelektronenmicroscoop

AFM van een cd-rom Atoomkrachtmicroscopie (Engels: atomic force microscopy, meestal kortweg AFM genoemd) is een scanning probe microscopy-techniek om net als bij scanning tunneling microscopy met een sonde het oppervlak van een object op atomaire schaal te kunnen verkennen, maar dan zonder de beperking dat het object elektrisch geleidend moet zijn. Vergroting van pollen met SEM. Desktop Scanning Electron Microscope Elektronenemissie-mechanismen. Meer specifiek gaat het hier om de PE: primair elektron, SE: secundair electron, BSE: teruggestrooide elektron en de karakteristieke röntgenstraling. Elektronenstraal-substraat interacties op verschillende dieptes in een rasterelektronenmicroscoop. De rasterelektronenmicroscoop (Engels: scanning electron microscope, SEM) is een bepaald type elektronenmicroscoop waarmee de microstructuur van materialen zichtbaar kan worden gemaakt voor het menselijk oog.

Overeenkomsten tussen Atoomkrachtmicroscopie en Rasterelektronenmicroscoop

Atoomkrachtmicroscopie en Rasterelektronenmicroscoop hebben 2 dingen gemeen (in Unionpedia): Engels, Microscopie.

Engels

Het Engels (English) is een Indo-Europese taal, die vanwege de nauwe verwantschap met talen als het Fries, (Neder-)Duits en Nederlands tot de West-Germaanse talen wordt gerekend.

Atoomkrachtmicroscopie en Engels · Engels en Rasterelektronenmicroscoop · Bekijk meer »

Microscopie

gepolariseerde lichtmicroscoop. Microscopie, oppervlakteanalyse of oppervlaktekarakterisering is een categorie binnen de materiaalkarakterisering, die de oppervlakte- of grenslaagstructuur van een materiaal onderzoeken en in kaart brengen.

Atoomkrachtmicroscopie en Microscopie · Microscopie en Rasterelektronenmicroscoop · Bekijk meer »

De bovenstaande lijst antwoord op de volgende vragen

Vergelijking tussen Atoomkrachtmicroscopie en Rasterelektronenmicroscoop

Atoomkrachtmicroscopie heeft 21 relaties, terwijl de Rasterelektronenmicroscoop heeft 30. Zoals ze gemeen hebben 2, de Jaccard-index is 3.92% = 2 / (21 + 30).

Referenties

Dit artikel toont de relatie tussen Atoomkrachtmicroscopie en Rasterelektronenmicroscoop. Om toegang te krijgen tot elk artikel waarvan de informatie werd gehaald, kunt u terecht op:

Hey! We zijn op Facebook nu! »