Overeenkomsten tussen Materiaalkarakterisering en Microscopie
Materiaalkarakterisering en Microscopie hebben 24 dingen gemeen (in Unionpedia): Analytische chemie, Atoom, Atoomkrachtmicroscopie, Auger-elektronspectroscopie, Elektron, Elektronenmicroscopie, Elektronenoptica, Foton, Infraroodspectroscopie, Ion (deeltje), Materiaal, Materiaalkunde, Micrometer (eenheid), Microscoop, Microstructuur, Rasterelektronenmicroscoop, Röntgenfluorescentiespectrometrie, Röntgenkristallografie, Scanning probe microscopy, Scanning tunneling microscopy, Sonde (meetinstrument), Spectroscopie, Substraat (materiaalkunde), Vastestoffysica.
Analytische chemie
De analytische scheikunde of analytische chemie is het onderdeel van de scheikunde dat zich bezighoudt met de analyse van chemische verbindingen en mengsels.
Analytische chemie en Materiaalkarakterisering · Analytische chemie en Microscopie ·
Atoom
Een atoom (Oudgrieks: ἄτομος, atomos‚ ondeelbaar) is het uiterst kleine kenmerkende onderdeel van een chemisch element, bestaande uit een kern en een of meer elektronen.
Atoom en Materiaalkarakterisering · Atoom en Microscopie ·
Atoomkrachtmicroscopie
AFM van een cd-rom Atoomkrachtmicroscopie (Engels: atomic force microscopy, meestal kortweg AFM genoemd) is een scanning probe microscopy-techniek om net als bij scanning tunneling microscopy met een sonde het oppervlak van een object op atomaire schaal te kunnen verkennen, maar dan zonder de beperking dat het object elektrisch geleidend moet zijn.
Atoomkrachtmicroscopie en Materiaalkarakterisering · Atoomkrachtmicroscopie en Microscopie ·
Auger-elektronspectroscopie
Tweemaal schetsing van het augereffect. (a) illustreert de twee opeenvolgende stappen in augerdeexcitatie. Een elektron of foton creëert een elektronentekort in de eerste schil. Een elektron uit de tweede schil, die meer energie heeft, vult dit gat op. De energie die hierbij vrijkomt wordt gebruikt om een andere elektron uit te zenden. (b) illustreert hetzelfde gebruikmakend van spectroscopische notatie Auger-elektronspectroscopie (AES) is een oppervlakteanalyse-techniek waarmee men kan karakteriseren welke elementen lokaal op een vast oppervlak voorkomen.
Auger-elektronspectroscopie en Materiaalkarakterisering · Auger-elektronspectroscopie en Microscopie ·
Elektron
Het elektron (Oudgrieks:, betekenis: barnsteen dat door wrijving elektrisch geladen werd) is een negatief geladen elementair deeltje, dat gebonden kan zijn, bijvoorbeeld in een atoom, of zich vrij in de ruimte kan bevinden.
Elektron en Materiaalkarakterisering · Elektron en Microscopie ·
Elektronenmicroscopie
Elektronenmicroscoop Elektronenmicroscopisch beeld van een vlo Elektronenmicroscopie is een techniek die gebruikmaakt van een bundel elektronen om het oppervlak of de inhoud van objecten af te beelden.
Elektronenmicroscopie en Materiaalkarakterisering · Elektronenmicroscopie en Microscopie ·
Elektronenoptica
Transmissie-elektronenmicroscoop Elektronenoptica is het deelgebied van de natuurkunde dat zich bezighoudt met het focusseren en afbeelden van bundels van geladen deeltjes (vooral elektronen) door middel van elektrische en/of magnetische velden.
Elektronenoptica en Materiaalkarakterisering · Elektronenoptica en Microscopie ·
Foton
Feynmandiagram van twee elektronen die elkaar afstoten doordat zij een foton uitwisselen. Fotonen (Oudgrieks:, phōs, licht) zijn elementaire deeltjes uit het standaardmodel van de deeltjesfysica.
Foton en Materiaalkarakterisering · Foton en Microscopie ·
Infraroodspectroscopie
Hoge resolutie Infraroodspectrum van waterstofchloride in de gastoestand Infraroodspectroscopie is een vorm van spectroscopie die werkt met het infrarode deel van het elektromagnetisch spectrum.
Infraroodspectroscopie en Materiaalkarakterisering · Infraroodspectroscopie en Microscopie ·
Ion (deeltje)
Een elektrondensiteitsplot van het nitraation (NO3−). Een ion (uitspraak met klemtoon op o) is een elektrisch geladen atoom of molecuul, een monoatomisch ion, of een groep atomen met een elektrische lading, een zogeheten polyatomisch ion.
Ion (deeltje) en Materiaalkarakterisering · Ion (deeltje) en Microscopie ·
Materiaal
Materiaal is een natuurlijke of kunstmatig geproduceerde stof, bestemd om verwerkt te worden tot bruikbare producten.
Materiaal en Materiaalkarakterisering · Materiaal en Microscopie ·
Materiaalkunde
karakterisering" in het midden halfgeleiders: n-type (boven) en p-type (onder). Materiaalkunde is een interdisciplinair natuurwetenschappelijk vakgebied, dat de samenstelling en structuur van materialen bestudeert, en hun daaruit voortvloeiende materiaaleigenschappen.
Materiaalkarakterisering en Materiaalkunde · Materiaalkunde en Microscopie ·
Micrometer (eenheid)
Een micrometer is een lengtemaat uit het SI-stelsel.
Materiaalkarakterisering en Micrometer (eenheid) · Micrometer (eenheid) en Microscopie ·
Microscoop
Binoculaire luminescentiemicroscoop Een microscoop (Oudgrieks, mikros en skopein (μικρός, "klein" en σκοπεῖν, "nauwkeurig bekijken, onderzoeken")) is een instrument voor het bestuderen van objecten, die te klein zijn om goed met het blote oog te kunnen worden gezien.
Materiaalkarakterisering en Microscoop · Microscoop en Microscopie ·
Microstructuur
O, bekeken met de rasterelektronenmicroscoop De microstructuur van een te onderzoeken materiaal wordt zichtbaar bij bestudering onder een microscoop.
Materiaalkarakterisering en Microstructuur · Microscopie en Microstructuur ·
Rasterelektronenmicroscoop
Vergroting van pollen met SEM. Desktop Scanning Electron Microscope Elektronenemissie-mechanismen. Meer specifiek gaat het hier om de PE: primair elektron, SE: secundair electron, BSE: teruggestrooide elektron en de karakteristieke röntgenstraling. Elektronenstraal-substraat interacties op verschillende dieptes in een rasterelektronenmicroscoop. De rasterelektronenmicroscoop (Engels: scanning electron microscope, SEM) is een bepaald type elektronenmicroscoop waarmee de microstructuur van materialen zichtbaar kan worden gemaakt voor het menselijk oog.
Materiaalkarakterisering en Rasterelektronenmicroscoop · Microscopie en Rasterelektronenmicroscoop ·
Röntgenfluorescentiespectrometrie
De röntgenfluorescentiespectrometrie (vaak aangeduid met het uit het Engels afgeleide acroniem XRF) is een techniek uit de analytische scheikunde waarbij de samenstelling van een monster uit chemische elementen wordt bepaald door gebruik te maken van röntgenfluorescentie.
Materiaalkarakterisering en Röntgenfluorescentiespectrometrie · Microscopie en Röntgenfluorescentiespectrometrie ·
Röntgenkristallografie
Röntgen-diffractometer in werking Röntgenkristallografie, ook wel röntgendiffractie genoemd, is een karakteriseringstechniek waarmee aan de hand van de verstrooiing van röntgenstralen de structuur van vaste stoffen kan worden bepaald.
Materiaalkarakterisering en Röntgenkristallografie · Microscopie en Röntgenkristallografie ·
Scanning probe microscopy
Scanning probe microscopy (SPM) is een microscopietechniek, waar met een sonde (Engels: probe) het oppervlak van een substraat op atoomschaal wordt verkend en in gescand.
Materiaalkarakterisering en Scanning probe microscopy · Microscopie en Scanning probe microscopy ·
Scanning tunneling microscopy
Een scanning tunneling microscoop met een stapel geveerde platen om bewegingen te dempen, 2004. Principe van STM, Scanning tunneling microscopie. Probe.
Materiaalkarakterisering en Scanning tunneling microscopy · Microscopie en Scanning tunneling microscopy ·
Sonde (meetinstrument)
Het scannen van een oppervlak met een sonde.geïntegreerd circuit te testen. Een sonde (Engels: (test)probe) is een fysiek onderdeel van een meetinstrument.
Materiaalkarakterisering en Sonde (meetinstrument) · Microscopie en Sonde (meetinstrument) ·
Spectroscopie
prisma waarbij een spectrum zichtbaar wordt. Blauw licht wordt sterker gebroken dan rood licht. Spectroscopie is een verzamelnaam voor wetenschappelijke technieken waarmee men stoffen kan onderzoeken aan de hand van hun elektromagnetische spectrum; men bestudeert de interactie van materie met straling van verschillende energie.
Materiaalkarakterisering en Spectroscopie · Microscopie en Spectroscopie ·
Substraat (materiaalkunde)
Multilaag thin film bovenop een substraat van glas. Substraat is een term die in de materiaalkunde en techniek wordt gebruikt om het ondermateriaal te beschrijven waarop een bewerking wordt uitgevoerd.
Materiaalkarakterisering en Substraat (materiaalkunde) · Microscopie en Substraat (materiaalkunde) ·
Vastestoffysica
Gevulde elektronische bandstructuur in verschillende type materialen in evenwicht. Vastestoffysica is het onderdeel van de natuurkunde en materiaalkunde, dat zich bezighoudt met onderzoek naar de structuur en de eigenschappen van vaste stoffen aan de hand van kwantummechanica, kristallografie, elektromagnetisme en metallurgie.
Materiaalkarakterisering en Vastestoffysica · Microscopie en Vastestoffysica ·
De bovenstaande lijst antwoord op de volgende vragen
- In wat lijkt op Materiaalkarakterisering en Microscopie
- Wat het gemeen heeft Materiaalkarakterisering en Microscopie
- Overeenkomsten tussen Materiaalkarakterisering en Microscopie
Vergelijking tussen Materiaalkarakterisering en Microscopie
Materiaalkarakterisering heeft 68 relaties, terwijl de Microscopie heeft 53. Zoals ze gemeen hebben 24, de Jaccard-index is 19.83% = 24 / (68 + 53).
Referenties
Dit artikel toont de relatie tussen Materiaalkarakterisering en Microscopie. Om toegang te krijgen tot elk artikel waarvan de informatie werd gehaald, kunt u terecht op: